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叶面积指数测量仪

更新时间:2020-05-27

简要描述:

叶面积指数测量仪对不同方向的冠层进行区域性分析时,可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择,可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件,通过手动调节阈值,可以更精准的测量出叶面积指数等参数。

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  冠层结构一一叶片的数量及其分布情况,是研究冠层中光线穿透情况,冠层生产力,冠

  层下土壤水分蒸发损失总量,冠层截留,及土壤温度的基础因子。同时对于不同尺度上的生

  态系统过程、系统之间的物流和能流的研究均是非常重要的。

<strong><strong><strong>叶面积指数测量仪</strong></strong></strong>(

  叶面积指数测量仪(葉面積指數測量儀)鱼眼镜头可以伸入至冠层中:镜头安装在摇臂一端,由于小巧和带有测量杆,可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处,快速地进行分层测量,测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图;图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区,方位角可分10区)。图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区,方位角可分10区)。

  仪器介绍:

  叶面积指数测量仪(用于各种高度植物冠层的研究,利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植

  物冠层图像,通过分析软件,获得植物冠层的相关指标和参数。

  葉面積指數測量儀测试原理:

  采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。

  葉面積指數測量儀可测参数:

  可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数,叶面积指

  数和叶片平均倾角等

  葉面積指數測量儀测试方法:

  植物冠层分析仪仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法,该方法

  是各类方法中最/精确和最省力、省时、快捷方便的方法。

 

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